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美国Protochips 用于低温透射电镜的多孔碳支持膜C-flat

发布时间:2014-10-22 11:13:51  浏览量:1170

产品描述:

 

公司介绍:

        Protochips致力于发展用于纳米尺度科学研究的突破性分析工具及产品的研发,将观察仪器和纳米材料处理完美结合,成功的将电子显微镜由一般的成像拍摄功能转变为真正的纳米实验室,实现电镜在各种条件下原位观察样品反应过程和结果。

        Protochip旗下共包括:ADUROTM, POSEIDONTM, C-FLATTM, DURASINTM四款产品, 可以应用于生物学、生物医学、冶金学、材料、电子和半导体、材料表面加工、金属失效分析等领域。

产品简介:

        C - FLAT™是用于低温透射电镜的新款多孔碳支持膜,专利技术制造,超平的碳膜可使待观察颗粒分散更均匀,为冰层厚度均匀打下良好的基础。膜上的花样孔采用深紫外光刻印制技术,确保了孔大小的精确(精确至微米级别);同时确保了孔型的连续性,精细的制造技术完全消除了多于的碳和碳膜孔产生的边角料。

C - FLAT™ 优势

·C-flat™可得到更好的数据

        C-flat™ 是用于低温透射电镜的新款多孔碳支持膜,专利技术制造,超平的碳膜可使待观察颗粒分散更均匀,冰层厚度更均匀,能得到更高质量数据和更高分辨率。

·C-flat™更实惠

        C-flat™有25,50,100不同包装可选,适合不用需求。

·C-flat™开包可用

        由于芯片网格都是清洁的,只需做简单的准备工作就可以进行检测。在样品制备过程中,大大减少了准备时间。

应用

        C-flat实现低温TEM单个粒子分析高分辨率数据、低温电子断层扫描和自动TEM分析。

Protochips中文网站:http://www.protochips.com.cn